מספר מוצר של יצרן:
SN74ABTH182646APM
Product Overview
יצרן:
Texas Instruments
DiGi Electronics מספר חלק:
SN74ABTH182646APM-DG
תיאור:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
תיאור מפורט:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
מלאי:
1696399
בקשת הצעת מחיר
כמות
מינימום 1
מינימום 1
(*) הוא חובה
נחזור אליך תוך 24 שעות
נחזור אליך תוך 24 שעות
שלח
SN74ABTH182646APM מפרטים טכניים
קטגוריה
לוגיקה, לוגיקה ייחודית
יצרן
Texas Instruments
אריזות
Tray
סדרה
74ABTH
סטטוס המוצר
Active
סוג לוגיקה
Scan Test Device With Transceivers And Registers
מתח אספקה
4.5V ~ 5.5V
מספר סיביות
18
טמפרטורת פעולה
-40°C ~ 85°C
סוג הרכבה
Surface Mount
חבילה / מארז
64-LQFP
חבילת מכשירים לספקים
64-LQFP (10x10)
מספר מוצר בסיסי
74ABTH182646
דף נתונים ומסמכים
גליונות נתונים
מידע נוסף
שמות אחרים
-296-4133-DG
-74ABTH182646APMG4-NDR
74ABTH182646APMG4-DG
74ABTH182646APMG4
2156-SN74ABTH182646APM
-296-4133
TEXTISSN74ABTH182646APM
296-4133-NDR
-SN74ABTH182646APM-NDR
-74ABTH182646APMG4
296-4133
חבילה סטנדרטית
160
סיווג סביבתי וייצוא
סטטוס RoHS
ROHS3 Compliant
רמת רגישות ללחות (MSL)
3 (168 Hours)
סטטוס REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
עבודת תקן DIGI
מוצרים קשורים
SN74ABT8543DL
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP
SN74ABTH18652APM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SY100EL16VCKI-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
