SN74ABTH18652APM
מספר מוצר של יצרן:

SN74ABTH18652APM

Product Overview

יצרן:

Texas Instruments

DiGi Electronics מספר חלק:

SN74ABTH18652APM-DG

תיאור:

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
תיאור מפורט:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)

מלאי:

1696816
בקשת הצעת מחיר
כמות
מינימום 1
num_del num_add
*
*
*
*
(*) הוא חובה
נחזור אליך תוך 24 שעות
שלח

SN74ABTH18652APM מפרטים טכניים

קטגוריה
לוגיקה, לוגיקה ייחודית
יצרן
Texas Instruments
אריזות
Tray
סדרה
74ABTH
סטטוס המוצר
Active
סוג לוגיקה
Scan Test Device With Transceivers And Registers
מתח אספקה
4.5V ~ 5.5V
מספר סיביות
18
טמפרטורת פעולה
-40°C ~ 85°C
סוג הרכבה
Surface Mount
חבילה / מארז
64-LQFP
חבילת מכשירים לספקים
64-LQFP (10x10)
מספר מוצר בסיסי
74ABTH18652

דף נתונים ומסמכים

גליונות נתונים

מידע נוסף

שמות אחרים
-296-4137
SN74ABTH18652APMG4-DG
-SN74ABTH18652APMG4
TEXTISSN74ABTH18652APM
-SN74ABTH18652APM-NDR
-296-4137-NDR
296-4137
-296-4137-DG
296-4137-NDR
SN74ABTH18652APMG4
2156-SN74ABTH18652APM
-SN74ABTH18652APMG4-NDR
חבילה סטנדרטית
160

סיווג סביבתי וייצוא

סטטוס RoHS
ROHS3 Compliant
רמת רגישות ללחות (MSL)
3 (168 Hours)
סטטוס REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
עבודת תקן DIGI
מוצרים קשורים
microchip-technology

SY100EL16VCKI-TR

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP

texas-instruments

SN74ABTE16245DL

IC 16BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP

texas-instruments

SN74ABT8652DW

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

texas-instruments

SN74BCT2414DWR

IC DECODER MEM DUAL 2-4 20-SOIC