מספר מוצר של יצרן:
SN74LVTH18646APM
Product Overview
יצרן:
Texas Instruments
DiGi Electronics מספר חלק:
SN74LVTH18646APM-DG
תיאור:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
תיאור מפורט:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
מלאי:
305 יחידות חדשות מק originales במלאי
1862955
בקשת הצעת מחיר
כמות
מינימום 1
מינימום 1
(*) הוא חובה
נחזור אליך תוך 24 שעות
נחזור אליך תוך 24 שעות
שלח
SN74LVTH18646APM מפרטים טכניים
קטגוריה
לוגיקה, לוגיקה ייחודית
יצרן
Texas Instruments
אריזות
Tray
סדרה
74LVTH
סטטוס המוצר
Active
סוג לוגיקה
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
מתח אספקה
2.7V ~ 3.6V
מספר סיביות
18
טמפרטורת פעולה
-40°C ~ 85°C
סוג הרכבה
Surface Mount
חבילה / מארז
64-LQFP
חבילת מכשירים לספקים
64-LQFP (10x10)
מספר מוצר בסיסי
74LVTH18646
דף נתונים ומסמכים
גליונות נתונים
מידע נוסף
שמות אחרים
-296-8703-DG
-296-8703
-SN74LVTH18646APMG4
2156-SN74LVTH18646APM
296-8703-NDR
-SN74LVTH18646APM-NDR
296-8703
SN74LVTH18646APMG4
SN74LVTH18646APMG4-DG
TEXTISSN74LVTH18646APM
-296-8703-NDR
-SN74LVTH18646APMG4-NDR
חבילה סטנדרטית
160
סיווג סביבתי וייצוא
סטטוס RoHS
ROHS3 Compliant
רמת רגישות ללחות (MSL)
3 (168 Hours)
סטטוס REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
עבודת תקן DIGI
מוצרים קשורים
SN74LVTH18646APMG4
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74TVC3010DBQR
IC PROG V CLAMP 24-QSOP
V62/04730-01XE
ENHANCED PRODUCT 3.3-V ABT SCAN