מספר מוצר של יצרן:
SN74BCT8374ANTG4
Product Overview
יצרן:
Texas Instruments
DiGi Electronics מספר חלק:
SN74BCT8374ANTG4-DG
תיאור:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
תיאור מפורט:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
מלאי:
1667859
בקשת הצעת מחיר
כמות
מינימום 1
מינימום 1
(*) הוא חובה
נחזור אליך תוך 24 שעות
נחזור אליך תוך 24 שעות
שלח
SN74BCT8374ANTG4 מפרטים טכניים
קטגוריה
לוגיקה, לוגיקה ייחודית
יצרן
Texas Instruments
אריזות
-
סדרה
74BCT
סטטוס המוצר
Obsolete
סוג לוגיקה
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
מתח אספקה
4.5V ~ 5.5V
מספר סיביות
8
טמפרטורת פעולה
0°C ~ 70°C
סוג הרכבה
Through Hole
חבילה / מארז
24-DIP (0.300", 7.62mm)
חבילת מכשירים לספקים
24-PDIP
מספר מוצר בסיסי
74BCT8374
דף נתונים ומסמכים
גליונות נתונים
מידע נוסף
שמות אחרים
SN74BCT8374ANTE4-DG
SN74BCT8374ANTE4
חבילה סטנדרטית
60
סיווג סביבתי וייצוא
סטטוס RoHS
ROHS3 Compliant
רמת רגישות ללחות (MSL)
1 (Unlimited)
סטטוס REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
מודלים חלופיים
מספר חלק
SN74BCT374N
יצרן
Texas Instruments
כמות זמינה
0
DiGi מספר חלק
SN74BCT374N-DG
מחיר ליחידה
4.14
סוג משאב
MFR Recommended
עבודת תקן DIGI
מוצרים קשורים
SY10EL16VKC-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SY10EL16VKC
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SY100EP16VKG-TR
IC LN RCVR DIFF 3.3V/5V 8MSOP
